Tab EES Fehlersimulation¶
Auf dem Tab EES Fehlersimulation werden die Fehlersimulations-Einheiten, sogenannte Pins, dargestellt, die in der Testkonfiguration angelegt wurden. Über diese können Testschritte für die elektrische Fehlersimulation in den Testfall eingefügt werden.
Wird der Testschritt Fehler schalten per Drag and Drop oder über das Kontextmenü in den Testfall eingefügt, öffnet sich das Dialogfenster Fehlerkonfiguration. Mit Hilfe dieses Testschritts können Tools der Kategorie Fehlersimulation, die dem ASAM XIL API EES Port Standard entsprechen, gesteuert werden.
Über diesen Dialog lassen sich Fehler für verschiedene Fehlerkategorien (s.a. Abbildung unten) und von jedem Störungstyp anlegen. Welcher Fehlerkategorie die aktuelle Konfiguration entspricht, wird im obersten Textfeld angezeigt. Die Standardeinstellung entspricht der Fehlerkategorie einer einfachen Unterbrechung (Interrupt). Der gewählte Pin wird automatisch zum Dialog hinzugefügt. Weitere Pins können per Drag and Drop in die Tabelle im unteren Bereich des Dialogs hinzugefügt werden. Die Pins werden automatisch als Mappingeintrag im lokalen Mapping angelegt. Für jeden Pin kann einzeln entschieden werden, ob er auf Last geschaltet ist (Haken gesetzt) oder nicht (Haken nicht gesetzt). Mit zwei Pins handelt es sich um einen Fehler der Kategorie „Pin zu Pin“ und bei noch mehr Pins um einen „Multi Pin Fehler“.
Die Auswahl des Fehlertyps bestimmt, ob ein Widerstand (Auswahl Widerstand) angegeben werden soll. Das Textfeld zur Eingabe der Widerstandsgröße wird bei entsprechender Auswahl aktiviert.
Bei der Zeitoption kann zwischen drei Varianten ausgewählt werden:
Statisch beschreibt einen permanenten Fehler, der so lange der Fehler aktiv ist auch geschaltet ist
Dynamisch beschreibt einen dynamischen Fehler, der nur eine gewisse Zeitspanne aktiv ist. Das Textfeld zur Eingabe der Dauer in Millisekunden wird aktiviert
Wackelkontakt simuliert einen sporadischen Fehler, der durch den Duty-Cycle und die Frequenz beschrieben wird.
Mit der Auswahl des Potentials kann entschieden werden, ob auf Masse, die Batteriespannung oder ein benutzerdefiniertes Potential geschaltet wird.
Nach der Bestätigung mit OK wird der Testschritt in den Testfall eingefügt. Im Hintergrund wird ein ErrorSet mit genau diesem einen Fehler erstellt. Sollen mehrere Fehler gleichzeitig geschaltet werden, so werden sie explizit einem ErrorSet hinzugefügt. Dieser Testschritt befindet sich auf dem Tab Testschritte im Ordner Standard-Testschritte > Toolzugriff unter dem Namen EES ErrorSet. Mit diesem ist es auch möglich, Fehler zu einem bestehenden ErrorSet hinzuzufügen.
Bemerkung: In der Testkonfiguration muss vorher die Schnittstelle konfiguriert werden, über welche die Erzeugung elektrischer Fehler abläuft. Außerdem wird eine Mapping-Datei angegeben, in der die Zuordnung zwischen symbolischen Pin-Namen und der Hardware enthalten ist.
Die Fehlerkategorie wird aus der Parametrierung ermittelt. Folgende Fehlerkategorien sind möglich:
